パラタングステン酸アンモニウムの焼成過程

空気中でのAPT焼成の歴史：T≧240℃、メタタングステン酸アンモニウム（AMT）に変わった。
300?350℃、アンモニウムタングステンブロンズATB;
400℃、六方晶系WO 3;
500℃、三斜晶系三酸化タングステン。

タングステン酸アンモニウムのか焼溫度が金屬タングステン粉末の性質に及ぼす影響
パラタングステン酸アンモニウムのか焼生成物を異なる溫度で水素還元することにより調製した中粒子W粉末の形態か焼生成物から製造された中間粒子Ｗ粉末にかかわらず、タングステン粒子は実質的に等軸である。単一粒徑は１４０?２９０℃では均一ではないが、単一粒徑は４２５℃では比較的均一である。

一般に、仮焼溫度が高くなるにつれて、還元調製された中粒子Ｗ粉末の分散性はますます良くなり、小粒子間の焼結凝集はますます少なくなり、そして粒子はますます均一になる。これは、低溫焼成後、ＡＰＴが完全には分解されず、還元過程でＡＰＴが分解し続け、分解反応により多量の熱が放出されるためと考えられる。この熱により、小粒子Ｗ粉末の表面が溶融し、次いで焼結により固化する。溫度が４２５℃に上昇すると、ＡＰＴ中に存在する分解が放出され、Ｗ粉末を溶融させるのに十分な熱がないため、粉末は凝集を生じないかまたは凝集を少なくする。

同様に、還元工程中のこの仮焼生成物の放熱工程もまた、Ｗ粉末の粒度分布に影響を及ぼし得る。熱の放出のために、反応中の反応溫度場は変動し、その結果、いくつかのＷ粉末について異なる還元條件が生じる。 Ｗ粉末の粒徑差は大きい。