パラタングステン酸アンモニウムのSEM寫真
パラタングステン酸アンモニウムのＳＥＭ寫真は、パラタングステン酸アンモニウム（ＡＰＴ）の顕微鏡的形態を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）および畫像化によって観察することによって得られる畫像であり、必要に応じて異なる倍率の注意深い調整によって調整することができる。
走査型電子顕微鏡（SEM）は、TEMと光學顕微鏡の間の顕微鏡的形態であり、試料表面材料の材料特性を利用した直接顕微鏡イメージングを可能にします。 ＳＥＭの利點は、１はより高い倍率を有し、２０?２００，０００倍の間で連続的に調節可能であり、２は大きな被寫界深度、大きな視野、および様々な試料の不均一な表面を直接観察することができる三次元畫像を有する。 微細構造； ３試料調製は簡単である。 走査型電子顕微鏡寫真から、異なる合成方法によって合成された黃色酸化タングステンの形態は著しく異なることが分かる。
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