СЭМ-микрофотография парагольфрамата аммония - изображение, полученное из сканирующей микроструктуры парагольфрамата аммония (АРТ) с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). И в соответствии с различными требованиями, SEM позволяет детально наблюдать, регулируя увеличение или сужение.

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) - это тип электронного микроскопа, который создает изображения образца путем сканирования его сфокусированным пучком электронов. Электроны взаимодействуют с атомами в образце, производя различные сигналы, которые содержат информацию о топографии поверхности образца и его составе. Электронный луч обычно сканируется по растровой схеме, и положение луча объединяется с обнаруженным сигналом для получения изображения. SEM может достичь разрешения лучше, чем 1 нанометр. Образцы могут наблюдаться в высоком вакууме, в низком вакууме, во влажных условиях (в СЭМ окружающей среды) и в широком диапазоне криогенных или повышенных температур.